基板上的薄膜测量

在透射测量中，透射光受到界面处样品吸收和反射的影响。在测量基板的透射率的情况下，在两个界面处发生反射，但在具有薄膜的基板的情况下，在三个界面处发生反射：空气和薄膜、薄膜和基板、以及基板和空气。如果您在电路板上进行基线测量，反射率的差异将不会反映出来，因此您将无法获得准确的测量结果。